অথচ ইলেকট্রনিক সরঞ্জামের কার্যক্ষমতা নির্ভরযোগ্যতা এবং আয়ু যন্ত্রের উপাদান তাপমাত্রার সাথে বিপরীতভাবে সম্পর্কিত। একটি সাধারণ সিলিকন সেমি-কন্ডাক্টর ডিভাইসের নির্ভরযোগ্যতা এবং অপারেটিং তাপমাত্রার মধ্যে সম্পর্ক দেখায় যে তাপমাত্রার হ্রাস ডিভাইসের নির্ভরযোগ্যতা এবং আয়ুষ্কালের সূচকীয় বৃদ্ধির সাথে মিলে যায়। অতএব, ডিভাইস ডিজাইন ইঞ্জিনিয়ারদের দ্বারা নির্ধারিত সীমার মধ্যে কার্যকরভাবে ডিভাইস অপারেটিং তাপমাত্রা নিয়ন্ত্রণ করে একটি উপাদানের দীর্ঘ জীবন এবং নির্ভরযোগ্য কর্মক্ষমতা অর্জন করা যেতে পারে।
হিট সিঙ্কের প্রকারগুলি
স্ট্যাম্পিং/এক্সট্রুশন/বন্ডেড/ফ্যাব্রিকেটেড ফিনস/কাস্টিং/ফোল্ডড ফিনস
উদাহরণস্বরূপ, সীল স্তর ব্যতীত অন্য উচ্চতায় একটি তাপ সিঙ্কের প্রকৃত তাপ কার্যক্ষমতা নির্ধারণ করার জন্য, কর্মক্ষমতা গ্রাফ থেকে পড়া তাপ প্রতিরোধের মানগুলিকে ডিরেটিং ফ্যাক্টর দ্বারা ভাগ করা উচিত প্রয়োজনীয় তাপ প্রতিরোধের।